G01R 31/26
Zariadenie na meranie komutačných strát výkonových tranzistorov
Číslo patentu: U 5198
Dátum: 05.06.2009
Autori: Drgoňa Peter, Špánik Pavol, Šul Róbert, Frívaldský Michal
MPK: G01R 31/26
Značky: meranie, zariadenie, výkonových, komutačných, tranzistorov, strát
Text:
...strát.Výkonová časť (tranzistory T 1 a T 2) je napájaná napätím, ktoré je možné nastavovať od O do 400 V. Ako zdroj pre riadiace a budiace obvody slúži DC/DC menič, ktorý má privedené napätie 15 V z laboratómeho zdroja.Ako riadiaci obvod je použitý mikroprocesor a ako užívateľské rozhranie sú použité tlačidlá spolu s LCD displejom. Riadiaci mikroprocesor generuje PWM signály pre tranzístory Tl a T 2. Modiñkácia riadiaceho a spínacieho...
Spôsob kontroly výkonových polovodičových prvkov
Číslo patentu: E 6230
Dátum: 15.10.2003
Autori: Lehmann Jan, Herzer Reinhrad, Pawel Sascha, Netzel Mario
MPK: G01R 31/28, G01R 31/02, G01R 31/26...
Značky: spôsob, prvkov, výkonových, kontroly, polovodičových
Text:
...prvku,napriklad V prípade IGBT ako vodiaca plôška riadiacej elektródy(ll). spojenia s izolovanou medenou plochou (16, 18, 19) podložky DCB sa realizujú drôtovými spojmi (12, l 3, l 4). Drôtenéspoje majú pritonx taktiež rozličné funkcie. Spojovacie drôtypotrebné na vedenie hlavného prúdu sa označujú ako spojovacie drôty emitora (14), spojovacie drôty potrebné pre aktivačné zapojenie sa označujú ako spojovací drôt riadiacej...
Spôsob stanovenia koncetrácie NBef efektívneho náboja bariéry v prekompenzovaných polovodičoch
Číslo patentu: 277700
Dátum: 06.07.1994
Autori: Dubecký František, Olejníková Božena
MPK: G01N 27/22, G01R 31/26
Značky: náboja, spôsob, bariéry, koncetrácie, prekompenzovaných, efektívneho, stanovenia, polovodičoch
Zhrnutie / Anotácia:
V polovodičoch, prekompenzovaných hlbokými prímesami, sa koncentrácia efektívneho náboja bariéry stanovuje analýzou C-U závislosti podľa vzťahu I. Z prekompenzovaného polovodiča sa pripraví dvojelektródová štruktúra s krátkou bázou dĺžky 2 mikrometre až 100 mikrometrov s kovovými elektródami, alebo polovodičovými elektródami druhého typu vodivosti s koncentráciou ionizovaných prímesí 10exp(17)cm-3 až 10exp(20)cm-3, na ktoré sa privedie...
Zariadenie na kontaktovanie integrovaných obvodov
Číslo patentu: 276739
Dátum: 12.08.1992
Autori: Czakó Štefan, Knapo Pavel, Lednický Pavol
MPK: G01R 31/26
Značky: integrovaných, kontaktovanie, zariadenie, obvodov
Zapojení pro měření zkratů tyristorů modulační metodou
Číslo patentu: 275408
Dátum: 19.02.1992
Autori: Vostárek Miroslav, Jarolím Josef
MPK: G01R 31/26
Značky: tyristorů, metodou, měření, zkratu, zapojení, modulační
Rýchly merný vysokonapäťový zdroj
Číslo patentu: 274893
Dátum: 17.12.1991
Autor: Boledovič Marián
MPK: G05F 1/59, G01R 31/26, G01R 27/14...
Značky: rychlý, měrný, vysokonapäťový, zdroj
Spo#ob merania fyzikálnych veličin charakterizujúcich hlboké stavy v semiizolačn ých polovodičoch a zapojenie na uskutečnenie tohoto sposobu
Číslo patentu: 274967
Dátum: 17.12.1991
Autori: Kordoš Peter Sav, Dubecký František
MPK: G01R 31/26, H01L 21/66
Značky: tohoto, stavy, hlboké, spôsobu, charakterizujúcich, veličin, zapojenie, merania, uskutečnenie, polovodičoch, spo#ob, fyzikálnych, semiizolačn
Impulsní zdroj proudu
Číslo patentu: 274886
Dátum: 12.11.1991
Autor: Macháč Petr
MPK: G05F 1/10, G01R 31/26, G05B 11/26...
Testovací čip pro polovodičové struktury s testovatelnou řídící logikou
Číslo patentu: 273671
Dátum: 12.03.1991
Autori: Adamíček Ivan, Hulenyi Ladislav, Malý Ľudovít
MPK: G01R 31/26, H01L 21/66
Značky: řídící, testovatelnou, testovací, struktury, polovodičové, logikou
Způsob provádění zkoušky tepelným šokem, zkoušky těsnosti a zkoušky životnosti
Číslo patentu: 273174
Dátum: 12.03.1991
Autori: Bargigia Gianangelo, Marchionni Guiseppe, Tonelli Claudio, Flabbi Luciano, Caporiccio Gerardo
MPK: G01R 31/26
Značky: způsob, těsnosti, tepelným, zkoušky, provádění, životnosti, šokem
Zařízení pro měření impulzních parametrů elektronických prvků
Číslo patentu: 272200
Dátum: 15.01.1991
Autor: Macháč Petr
MPK: G01R 31/26
Značky: měření, prvků, elektronických, parametrů, zařízení, impulzních
Zapojení pro měření homogenity elektrického pole v polovodičových strukturách
Číslo patentu: 272020
Dátum: 13.12.1990
Autor: Zamba Juraj
MPK: H01L 21/66, G01R 31/26
Značky: polovodičových, homogenity, elektrického, zapojení, strukturách, měření
Zapojení pro měření prahového napětí vstupních tranzistorů unipolárních integrovaných obvodů
Číslo patentu: 270475
Dátum: 13.06.1990
Autor: Bubeníček Petr
MPK: G01R 31/26
Značky: tranzistorů, unipolárních, obvodů, napětí, měření, vstupních, prahového, zapojení, integrovaných
Text:
...obvodu A za účelom připojení nepájooího napětí. Druhý výstup 33 napájocího zdroje Bje spojen se spoločnou zemnící svorkou g. restovaný vstup 2 Ateatovaného integrovaného obvodu A je spojen s prvním výstupom çl zdroje g spojitě proměnného nepětí za účelom buzení testoveněho integrovaného obvodu L a současně je spojen se vzorkovacím vstupom g vzorkovaeího obvodu Hza účelom vzorkování hodnoty proměnnéhonapětí. První vstup 2 Lç zdroje çspojitě...
Obvod pro měření průrazných napětí polovodičových součástek
Číslo patentu: 267534
Dátum: 12.02.1990
Autor: Láznička Pavel
MPK: G01R 31/26
Značky: obvod, součástek, polovodičových, napětí, průrazných, měření
Text:
...k zápornému pőlu zdroje Q vysokého napětí s vysokonapěĺoveho kondenzátoru 2, druhý pôl merené součástky 13 je přes bočník 2 spojen s kostrou přístroje. Dělíč napětí gložený 2 prvního a druhého rezístoru Z a Q je zapojen nezí záporný pol vysokonapěttvého kondenzátoru 5 a kostru přístroje. První konec druhého rezístoru Q je spojen s prvním vstupem 131 a jeho druhý konec je spojen s druhým vstupe 133 díferencíálního zesílovaće 13 napětí. rvní...
Způsob detekce vnitřních zkratů na interdigitalizovaných strukturách v zapouzdřených polovodičových součástkách
Číslo patentu: 265361
Dátum: 13.10.1989
Autori: Muller Ilja, Homola Jaroslav, Zamastil Jaroslav, Škaloud Miroslav
MPK: H01L 21/66, G01R 31/26
Značky: součástkách, zapouzdřených, zkratu, interdigitalizovaných, strukturách, polovodičových, detekce, způsob, vnitřních
Text:
...elektrody a katody výše uvedené zkraty detekovat nelze,protože tyristorová struktura mezi vývodem řídící elektrody a katodou pomocného tyristoru vnáší do měřícího obvodu sériový odpor, který je mnohem větší, než. velikost odporu mezi katodovou elektrodou a katodcu pomocného tyristoru u nezkratované struktury. známé způsoby detekce zkratů tedy neumožňují provádět výstupní kontrolu zapouzdřených součástek,a nelze takzabránit expedování součástek...
Zapojenie obvodov na meranie číslicovo-analógových prevodníkov
Číslo patentu: 245323
Dátum: 15.12.1988
Autori: Kassai Ferenc, Kerekes Jeno
MPK: G01R 31/02, G01R 31/26, G01R 31/28...
Značky: obvodov, meranie, číslicovo-analógových, prevodníkov, zapojenie
Text:
...prúd/napätie, spínač 5 a první oddelovací sledovač 8 na jeden vstup diierencialneho zosilňovače B je pripojený výstup druhého oddelovacieho sled-ovača 9 pripojeného cez prepínač 4 na deiič 3. Výstup diferenciáineho zosilňovače 6je pripojený na vstup analógového multiplexéra 10, ktorého výstup je pripojený na vstup analógovo-číslicového prevodníka 7. Výstup analogovo-číslicového prevodníka 7 je pripojený na počítač 11. Cez analógový...
Zařízení k měření modulačních vlastností polovodičových injekčních laserů
Číslo patentu: 259334
Dátum: 17.10.1988
Autori: Ždánský Karel, Kratěna Ladislav
MPK: H01L 3/19, G01R 31/26, H01S 3/19...
Značky: laseru, vlastností, měření, zařízení, polovodičových, injekčních, modulačních
Text:
...jednak na vstup vzorkovacího oscilografu 3 a jednak každý pres oddělovací odpory lg, ll na svorky A zkoušené laserové diody Q zasazené v pouzdru § spolu s detektorem 1, jehož výstupní svorka g je spojene se stejno~ směrným nanoampérmetrem 3.Generátor 3 dlouhých impulsů generuje nosné impulsy, které určují zvolený pracovní bod zkoušené laserové diody g. Jejich délka, smplituda a doba zpoždění vzhledem ke spouštěcímu impulsu se nastavují dle...
Obvod pro měření proudového zesilovacího činitele tranzistorů
Číslo patentu: 258966
Dátum: 16.09.1988
Autor: Láznička Pavel
MPK: G01R 13/02, G01R 19/10, G01R 17/02...
Značky: činitele, měření, obvod, tranzistorů, proudového, zesilovacího
Text:
...A. Emitor měřeného tranzistoru.Aje dále spojen s druhým výstupem 11 zdroje 2 bázového proudu. Výstup §§ diferenciálního zesilovače§ je spojen s druhým vstupem gg komparátoru 3,jehož výstup 22 je spojen s prvním vůtupem łgł klopného obvodu łá. Jeho výstup lg je spojen s prvním vstupom lg vratného čítače łł, jehož první výstup łłg je spojen s prvním vstur pem 1 klíčovacího obvodu 1. Výstup 1 klíčovacího obvodu 1 je spow jen s druhým vstupom gg...
Analyzátor energií elementárních částic
Číslo patentu: 258565
Dátum: 16.08.1988
Autor: Fišer Jan
MPK: G01N 23/08, G01R 31/26, H01L 21/66...
Značky: částic, elementárních, analyzátor, energií
Text:
...výhodou analyzátoru je zvýšení jeho rozlišovací schopnosti, zadrží pozadí signálu vytvořeného částicemi prošlými otvorem analyzační mřížky. Značně se omezí Vliv extrakčních polí na primární svazek elementárních částic a sníží se vliv terciálních částic.Vynález blíže qpjasní přiložený výkres, na kterém je znázorněn ve zjednodušeném náčrtku analyzátor v osovém řezu.Analyzátor tvoří jednak extrakční prostor 2 a jednak brzdné pole lg...
Zařízení pro testování logických obvodů a odporů na osazené desce plošného spoje
Číslo patentu: 258388
Dátum: 16.08.1988
Autori: Mattausch Pavel, Uhlíř Karel, Strnad Pavel, Pokorný Zdeněk, Kubát Richard, Kolliner René
MPK: G01R 31/28, G01R 31/26, G01R 31/00...
Značky: desce, osazené, spoje, obvodů, testování, odporu, zařízení, plošného, logických
Text:
...sběrnicového výstupu bloku lg volby logického testu a jeho třetí sběrnicový vstup łjg je propojen do třetího sběrnicového výstupu bloku lg adres kroku testu obsaženého v bloku lg řídících signálu, jenž současně obsahuje blok lg časovacích signálu a blok lgł hodin, jehož vstup lglł je přiveden k druhému výstupu řídicího počítače lg a současně prvý sběrnicový vstup łggl bloku lg řídíoích signálu je zapojendo druhého sběrnicového výstupu bloku...
Zapojení pro měření spínacích dob výkonových tranzistorů
Číslo patentu: 256443
Dátum: 15.04.1988
Autori: Jarolím Josef, Bureš Josef
MPK: G01R 31/26
Značky: tranzistorů, měření, zapojení, výkonových, spínacích
Text:
...jo spojon so vstupan prvního řízanćho zdroja. Kladaý výstup druhtho řízontho zdrojo jo spojon současně so druhýn vstupss sčítscího bodu třstího rsgulůtoru as kladný polos druhů kondonzàtorovb batsrío. Jojí tporný půl jo spojon as ztpornýs výstupoa druhbho řízonćho zdroja. Kladný výstup prvního řízonoho zdroje jo spojos jsdnak s druhý vstuo psa sčítacího bodu druhého rogulútoru, jednak s druhý vstupsa sčítacího bodu prvního ragulttoru a s...
Obvod pro měření propustného napětí polovodičových součástek, zejména diod a tyristorů
Číslo patentu: 242051
Dátum: 01.02.1988
Autori: Mahút Juraj, Polorecký Vladimar
MPK: G01R 31/26
Značky: součástek, měření, napětí, propustného, obvod, zejména, tyristorů, polovodičových
Text:
...paměti j a výstup g první přechodově paměti 3 Jou připojeny k prvnímu vstupu gg aťdruhému vstupu 11 rozdílového zesilovače 5. moda měřeněho polovodičového prvku lv je prostřednictvím měrného bočníku p připojena ke vstupu gg bloku 4 vzorkovacích impulsů a současně prostřednictvím měrněho hrotu k prvnímu vstupu lg první přechodově paměti j. Výstup ä bloku A vzorkovacích impulsñ Je připojen k druhěmulogickému vstupu 23 první přechodové...
Zapojení diagnostického obvodu výkonového polovodičového prvku
Číslo patentu: 240842
Dátum: 01.01.1988
Autori: Banda Imrich, Blaško Imrich, Bustinová Branislava, Eechovie Rudolf
MPK: G01R 31/26
Značky: obvodů, výkonového, polovodičového, prvků, zapojení, diagnostického
Text:
...l je spojene s nulovousvorkou gł obvodupro zpracování řídicích optických impulsů tyristoru 2. Druhá výstupní svorka 11 napájecího zdroje .L je spojenese vstupní svorkou 2 J. obvodu pro zpracování řídicích optických im pulsůutyristoru 2. První výstupní svorka g obvodu pro zpracování řídicích optických impulsů tyristoru 2 je spojene se vstupní svorkou 1. napájecíbo zdroje ł. Druhá výstupní svorka g obvodu pro zpracování řídicích optických...
Nedestruktivní indikátor poruch v polovodičových součástkách s přechodem PN nebo přechodem kov-polovodič
Číslo patentu: 243094
Dátum: 15.11.1987
Autori: Bohuš Vojtech, Pálenský Zdenik, Martincová 1ubica, Oroszlán Tibor
MPK: G01R 31/26
Značky: poruch, součástkách, kov-polovodič, přechodem, polovodičových, indikátor, nedestruktivní
Text:
...dvou komparatorů, logickéhuo členu a indikačního zařízení.Schéma indikatoru poruch v polovodičových součästkách je na obr., kde 1 značí zdroj stejnosměrného proudu, 2 - měřič stejnosměrnéhow napětí, 3 - druhý komparábor, 4 - logický člen, 5 zesilovač šumového signálu, 6 - první komparátor, 7Zesilovač 5 šumového signálu je připojen vstupem na měřenou součástku D a výstupem na první komparátor 6, měřič 2 stejnosměrného napětí je vstupem...
Zapojenie analyzátora prechodovej kapacity
Číslo patentu: 244969
Dátum: 15.11.1987
Autor: Wille Lothar
MPK: G01R 27/00, G01R 27/26, G01R 31/26...
Značky: kapacity, zapojenie, analyzátora, prechodovej
Text:
...preohodovej kapacity.Na obr. 1 je výstup vysokofrekvenčného generátora 1 spojený so vstupom a excitačného blolku 2, s referenčným vstupom b lock-in zosilňovače 3, použitého ako .merača kapacity a so vstupom c riadiaceho bloku 4. Na svorky d a e excitačného bloku 2 sa pripojí vyšetrovaný objekt a výstup ľ je spojený s lock-in zosilňovačom 3, na výstup g, kt-orého je pripojený vyhodnocovací blok 5 a v prípade potreby aj osciloskop. Na výstup m...
Obvod pro měření doby života minoritních nositelů náboje v monokrystalu polovodiče
Číslo patentu: 239126
Dátum: 01.11.1987
Autori: Klasna Miloš, Samek Jiří
MPK: G01R 17/00, G01R 31/26
Značky: monokrystalů, minoritních, obvod, života, nositelů, měření, náboje, polovodiče
Zhrnutie / Anotácia:
Obvod pro měření doby života minoritních nositelů náboje v monokrystalu polovodiče, využívající metodu náběhu fotovodivosti. Účelem zapojení je odstranění nevýhod používaných obvodů, zvětšení fotodetektivity měřicího obvodu a přesnější a rychlejší odečítání naměřených hodnot. Uvedeného účelu se dosáhne pomocí obvodu složeného z generátoru časových impulsů, spojeného s monostabilním multivibrátorem, který je spojen s impulsním zdrojem...
Zapojení obvodu pro vyhodnocování stavu elektrotechnických součástek
Číslo patentu: 240596
Dátum: 15.08.1987
Autori: Ajrapetjan Aram Surenovie, Archipov Vladimir Viktorovie, Povaljajev Anatolij Petrovie, Kolesnikov Jevgenij Fjodorovie
MPK: G01R 31/26
Značky: stavu, zapojení, obvodů, elektrotechnických, vyhodnocování, součástek
Text:
...1 je znázorněno blokové schéma zapojení obvodu pro vyhodnocování tyristorového sloupce, tvořeného vyhodnocovacím obvody tyristorů 11 až 1 n, vyhodnocovacím blokem 2 sloupce tyristorů a přizpůsobovacím blokem 3. Do vyhodnocovacích bloků tyristorů 11 až 1 n se zavádějí optické signály 01 až On a dále na vstupy 111,až 11 n výstupní signál z výstupu 1 generátoru zapí nacích impulsů. Výstupy 1.21 až 12 n vyhod nocovacích obvodů tyristorů 11 až 1 n...
Obvod pro automatické vyhodnocení vypínací doby tyristorů
Číslo patentu: 240233
Dátum: 15.06.1987
Autori: Bednáo Jioa, Macho Ján
MPK: G01R 31/26
Značky: vyhodnocení, automatické, tyristorů, vypínací, obvod
Text:
...měrného bočníku 29 připojena k druhému vstupu 44 bio ku 42 vyhodnocení prohoření. Výstup 41 zdroje .39 řid-icichimpulsů je» připojen ke vstupu 2 prvního časovacího obvodu 1. Vstup 38 zdroje 35 du/dt je připojen k výstupu 13 druhého časovacího obvodu 16. Výstup 45 bloku 42 vyhodnoce-ní prohoření je spojen s třetím datovým vstupem 10 aproximačního registru B. Výstup 3 prvni, ho časovacího obvodu 1 je spojen současněs prvním...
Obvod pro měření zotavovacích vlastností tyristorů a diod
Číslo patentu: 240700
Dátum: 01.06.1987
Autor: Pelikán Petr
MPK: G01R 31/26
Značky: zotavovacích, obvod, měření, tyristorů, vlastností
Text:
...závěrného proudu začíná na kladném pőlu druhé kondenzátorové baterie §, spojené a kladným pőlem druhého zdroje 3 napětí,pokračuje spojem s anodou tyrietorového spínače lg, z katody tyrietorového spínače přes proměnnou indukčnost gg na katodu měřeného prvku 5, z anody měřeného prvku přes bočník 1 na záporný pől druhé kondenzátorové baterie §, spojený se záporným pőlem druhěho zdroje 2 napětí. Obě smyčky mají spoločnou tu část, ve které je...
Způsob stanovení vadného tranzistoru zapojeného libovolným způsobem na elektrické jednotce pomocí sondy měřící saturační stav tranzistorů
Číslo patentu: 240177
Dátum: 01.06.1987
Autori: Sofijanski Christo Stifanov, Kiškilov Vasil Borisov
MPK: G01R 31/26
Značky: způsobem, zapojeného, tranzistorů, způsob, jednotce, saturační, elektrické, sondy, stanovení, libovolným, měřicí, pomocí, vadného
Text:
...jiným metodám. Lze jí odstranit na libovolném sortimentu elektronických jednotek složité závady způsobené vadnými tranzistory. Pro zjíštování závad není nutná přesné znalost signálu v obvodech, proto metodou mohou pracovat i méně kvalifikovaní pracovníci. Zjištování vadných tranzistorů se provádí mimo zařízení a tím jsou vytvořeny podmínky pro úsporu strojovéhoNa výkresu je značen příklad zapojení pro stanovení vadného tranzistoru...
Obvod pro měření zapínací doby spínacích polovodičových součástek
Číslo patentu: 239549
Dátum: 01.06.1987
Autori: Paleeek Jaroslav, Eerný Miloslav
MPK: G01R 31/26
Značky: zapínací, polovodičových, měření, spínacích, obvod, součástek
Text:
...g řídícíou impulsů s prvním hodinový vetua pem gg prvního klopuého obvodu gł. Výstup A zesilovače. g řídících ímpulsů je spojen s řídící olektrodou měřonó polovodičové součástky 1 .jejíž ksteds je připojens na vstup g děličo g napätí. Výstup 1,9 děliče g napětí je spojon s prvním snslogovým vstupom u přechodově paměti li a prvním vstupom 15 kompsrátoru u. Výstup g čssovscího obvodu l jo spojen s druhým l-ogiekým vstupom gg přechodové...
Zapojení k měření polovodičových diod pro teploměrné účely
Číslo patentu: 242797
Dátum: 15.05.1987
Autor: Hanousek Vítizslav
MPK: G01R 31/26
Značky: polovodičových, účely, teploměrné, zapojení, měření
Text:
...dále připojen poslední kontakt přepínaěe.Jednotlivé spoje sousedních diod baterie jsou propojeny vždy s jedním kontaktem přepínače. Digitální voltmetr je paralelné připojen ke dvěma sběračüm přepínače, které v každé poloze přepínače jsou vždy spojeny se dvěma sousedními kontakty přepínače, jež jsou paralelně spojený s měřenou diodou baterie. Napětí na měřených diodách se tak měří postupným paralelním připojováním digitálního voltmetru k...
Zariadenie pre testovanie polovodičových prvkov
Číslo patentu: 238812
Dátum: 15.05.1987
Autori: Chamraz Jozef, Kubo Jozef
MPK: G01R 31/26
Značky: prvkov, zariadenie, testovanie, polovodičových
Zhrnutie / Anotácia:
Vynález rieši zariadenie pre testovanie polovodičových prvkov. Podstata vynálezu je znázornená na obr. č. 1, a obr. č. 2. Kde blok (1) predstavuje riadiacu pamäť mikroprogramu, z ktorej inštrukčné slovo rozdelené do príslušných mikrokódov prichádza na jednotku riadenia programového programu (2). Táto jednotka riadi spolu s príslušnými mikrokódmi prichádzajúcimi z inštrukčného slova pamäti mikroprogramu (1) činnosť jednotky generovania dát (3) a...
Bezkontaktní způsob měření rekombinace nositelů náboje v polovodičových deskách
Číslo patentu: 238743
Dátum: 16.03.1987
Autor: Hlávka Jan
MPK: G01R 31/26
Značky: náboje, rekombinace, bezkontaktní, nositelů, deskách, měření, polovodičových, způsob
Zhrnutie / Anotácia:
Způsob měření objemové a povrchové rekombinace nositelů náboje v polovodičových deskách, při kterém není nutné vytvořit k měřeným deskám elektrické kontakty. Uvedeného účelu se dosáhne měřením velikosti magnetického pole fotomagnetoelektrického cirkulačního proudu vytvořeného ve sledované polovodičové desce. Vzhledm k tomu, že měření je snadné, rychlé, nezpůsobuje kontaminaci polovodičových desek, měřicí zařízení je jednoduché a levné, může být...
Obvod pro bezztrátové měření kmitočtové zatížitelnosti výkonových tranzistorů
Číslo patentu: 237012
Dátum: 15.02.1987
Autori: Jarolím Josef, Láznička Pavel, Bureš Josef
MPK: G01R 31/26
Značky: obvod, zatížitelností, výkonových, kmitočtově, bezztrátové, měření, tranzistorů
Zhrnutie / Anotácia:
Účelem vynálezu je zmenšení spotřeby elektrické energie při měření a zvýšení jeho přesnosti. Uvedeného účelu se dosáhne zapojením obvodu podle vynálezu, který je složen z regulovaného zdroje napětí, pulsního měniče, regulátoru pulsního měniče a bloku řízení, aktivních a pasivních součástí. V obvodu je zapojen kondenzátor, představující zdroj napětí a velká filtrační indukčnost, chovající se jako zdroj proudu. Měřený tranzistor je zatěžován buď...
Obvod pro měření blokovacích a závěrných napětí polovodičových součástek, zejména tyristorů a diod
Číslo patentu: 232461
Dátum: 15.06.1986
Autori: Bureš Josef, Kubant Svatopluk
MPK: G01R 31/26
Značky: zejména, měření, napětí, závěrných, polovodičových, obvod, blokovacích, tyristorů, součástek
Zhrnutie / Anotácia:
Účelem vynálezu je samočinné nastavení napětí pro měření a zamezení možnosti překročení dovoleného proudu polovodičovou součástkou. Není nutné použití osciloskopu a obsluha je zjednodušena. Uvedeného účelu se dosáhne pomocí obvodu, který je složen ze zdroje střídavého napětí, omezovače konstantního proudu, komparátoru, zdroje referenčního napětí a bloku vyhodnocení. První svorka zdroje střídavého napětí je připojena k první elektrodě měřeného...
Obvod pro měření doby zotavení polovodičových součástek
Číslo patentu: 230798
Dátum: 01.04.1986
Autori: Jarolím Josef, Bureš Josef
MPK: G01R 31/26
Značky: měření, polovodičových, zotavení, součástek, obvod
Zhrnutie / Anotácia:
Účelem vynálezu je urychlení a zpřesnění měření doby zotavení polovodičových součástek pomocí jednoduchého obvodu. Uvedeného účelu se dosáhne použitím obvodu složeného z měrného bočníku, zesilovače signálu, paměťového bloku vrcholové hodnoty, komparátorů, generátoru impulsů, děliček, obvodů logického součinu a součtu a čítače. Výstupní signál z měrného bočníku je zpracován v zesilovači signálu, bloku vrcholové hodnoty a komparátorech a přiveden...
Zapojení obvodu pro bezeztrátové komplexní měření dynamických parametrů diod a tyristorů
Číslo patentu: 230795
Dátum: 01.04.1986
Autori: Jarolím Josef, Bureš Josef
MPK: G01R 31/26
Značky: tyristorů, obvodů, parametrů, komplexní, bezeztrátové, měření, zapojení, dynamických
Zhrnutie / Anotácia:
Předmět vynálezu se týká zapojení obvodu pro bezeztrátové komplexní měření dynamických parametrů diod a tyristorů. Zapojeni obvodu sestává z obvodu propustného proudu tvořeného dvěma LC obvody zapojenými do série. Paralelně k LC obvodům je přes první proměnnou indukčnost zapojena větev sestávající z měřeného prvku, čidla proudu, z diody a tyristoru. Obvod měřeného prvku sestává z obvodu pomocného kmitu a obvodu generátoru blokovacího napětí....