Patenty so značkou «strukturách»

Způsob detekce vnitřních zkratů na interdigitalizovaných strukturách v zapouzdřených polovodičových součástkách

Načítavanie...

Číslo patentu: 265361

Dátum: 13.10.1989

Autori: Homola Jaroslav, Muller Ilja, Škaloud Miroslav, Zamastil Jaroslav

MPK: G01R 31/26, H01L 21/66

Značky: zkratu, strukturách, detekce, způsob, zapouzdřených, vnitřních, součástkách, polovodičových, interdigitalizovaných

Text:

...elektrody a katody výše uvedené zkraty detekovat nelze,protože tyristorová struktura mezi vývodem řídící elektrody a katodou pomocného tyristoru vnáší do měřícího obvodu sériový odpor, který je mnohem větší, než. velikost odporu mezi katodovou elektrodou a katodcu pomocného tyristoru u nezkratované struktury. známé způsoby detekce zkratů tedy neumožňují provádět výstupní kontrolu zapouzdřených součástek,a nelze takzabránit expedování součástek...

Způsob výroby kovových kontaktních vrstev na polovodičových strukturách

Načítavanie...

Číslo patentu: 242655

Dátum: 01.04.1988

Autori: Pscheidt Jioí, Židlický Zdenik, Vlasák Ludvík, Židlická Vira, Toman Jaromír, Vála Lutz

MPK: H01L 21/428

Značky: výroby, kontaktních, kovových, strukturách, způsob, vrstev, polovodičových

Text:

...atmcsféře zahřeje alespoň v jednom pulsu pulsním zdrojem záření, tvořeným laserem C 02, neodymovým laserem YAG nebo xenonovou výbojkou na teplotu 350 až 800 ° C,přičemž doba trvání pulsu je kratší než Sočus, energie Pula je 5 až 60 J/cm 2 s rozsahem vlnových délek záření 0,3 äž 10 čum.Výhody řešení podle vynálezu spočívají především v tom, že při pulsním zažíhnutí kontaktního kovu je prakticky celý objem polovodičové struktury na nízké...