Patenty so značkou «rovinnosti»

Valec na meranie rovinnosti a spôsob určovania chýb rovinnosti u pásu

Načítavanie...

Číslo patentu: E 12562

Dátum: 27.03.2009

Autor: Noé Andreas

MPK: B21B 38/06, G01B 7/34, B21B 38/02...

Značky: meranie, chýb, určovania, pásu, válec, rovinnosti, spôsob

Text:

...zaznamenávať ťah pásu zvláštnym zariadenímv závislosti na čase. To je však spojené s vysokým nákladom.Pokiaľ sa meranie ťahu pásu uskutočňuje napríklad V oblasti valcových ložísk pomocou bežných load-cells (dynamometrov),môže byť dynamika často nedostatočná. Tu je oblasť predkladaného vynálezu.0005 Okrem toho je známy valec s dvoma pruhovitými tlakovými snímačmi na vonkajšom povrchu valca, pričom sú snímače umiestnené V strednej časti...

Spôsob a zariadenie na integrované sledovanie a reguláciu rovinnosti a profilu oceľových pásov

Načítavanie...

Číslo patentu: E 17797

Dátum: 07.03.2007

Autori: Wallace Glen, Britanik Richard, Rees Harold Bradley, Domanti Tino, Mueller Jason A, Gerber Terry L

MPK: B21B 37/28

Značky: profilů, reguláciu, spôsob, rovinnosti, sledovanie, oceľových, zariadenie, integrované, pásov

Text:

...tenkého pásu sa požaduje vyrobenie pásu spožadovaným profilom pásu, pričom sa musí udržať prijatelná rovinnosť,pretože tento produkt sa môže použiť ako náhrada produktu valcovaného za studena. Geometriu pásu prevažne riadi odlievacie zariadenie. Nízke napätie používané vo valcovniach na valcovanie za tepla spôsobuje drobné lokálne chyby medzery medzi valcami a stratu namáhania ťahom v bodoch Iežiacich po šírke pása a výsledkom sú...

Plný valček na zisťovanie odchýlok od rovinnosti

Načítavanie...

Číslo patentu: E 4368

Dátum: 17.01.2003

Autori: Mücke Gerd, Neuschütz Eberhard

MPK: G01L 5/04, B21B 38/00, G01B 7/34...

Značky: odchylok, zisťovanie, rovinnosti, valček, plný

Text:

...povrchu rúrky. Podobné problémy vznikajú vtedy, ak je potrebné za tepla nasadit nie povrchovú rúrku, ale veľký počet povrchových krúžkov na valcovanételeso. Vtom prípade môže prist ktomu, že na miestach styku krúžkov samôžu tvorit malé obiehajúce trhliny, ktoré môžu viest k negatívnemu vplyvu nakvalitu (resp. poškodeniu) povrchu pásu, ktorý je vedený cez merací valček.0008 Ďalšia nevýhoda používania povrchových rúrok alebo krúžkov vyplýva...

Optoelektronické zařízení k přesnému vytyčování a měření rovinnosti

Načítavanie...

Číslo patentu: 267653

Dátum: 12.02.1990

Autori: Drenckhau Jürgen, Salowski Klaus-dieter, Rëpske Jürgen

MPK: G02B 5/04, G01B 3/08

Značky: zařízení, optoelektronické, měření, rovinnosti, přesnému, vytyčování

Text:

...posunů vůči etalonovému paprsku používá prvek, jenž nemá elektrické spojení se zpracovatelským uz lem, využívá navíc celý vyzařovací výkon na zpracovánísignálů a maximálně omezuje vzduchovou mezeru, kterou prochází etalonový paprsek.Podle daného vynálezu zařízení se skládá ze zdroje laserového světla včetně příslušné optiky, který stanoví etalon přímosti, z volně nastavitelného oddělovače paprsku s množstvím optických hran, odpovídajícím...

Zařízení pro zjišťování rovinnosti ploch, zejména dosedacích ploch jader transformátorů

Načítavanie...

Číslo patentu: 258906

Dátum: 16.09.1988

Autor: Poláček Josef

MPK: G01B 7/34, G01B 11/30

Značky: zjišťování, ploch, dosedacích, jader, zejména, rovinnosti, zařízení, transformátoru

Text:

...připev něn první konektor 39.Na obr. 3 je znázornřno příkladné provedení vyhodnocovacĺho tabla 33 podle vynálezu. Vyhodnocovací tablo 33 je v příkladném provedení tvořeno rámem 33, v němž jsou uspořádány světloemitující diody 3 tak, abypo 1 oha každé jednotlivé světloemitující diody 3 odpovídala poloze 5 ní elektricky spojeného kontaktního hrotu 3 v první soustavě 3 či druhé soustavě 3 kontaktních hrotů 3 na tuhé podložce 3. Takto první,...

Zařízení pro interferometrické měření úchytky rovinnosti technických povrchů

Načítavanie...

Číslo patentu: 256944

Dátum: 15.04.1988

Autori: Elssner Karl- Edmund, Spolaczyk Reiner, Schwider Johannes

MPK: G01B 9/02

Značky: interferometrické, zařízení, povrchu, měření, technických, úchytky, rovinnosti

Text:

...nepaoro orxnonxmmero sepxana, nponnxà er uepes HHOCKOCTB önuañmero Kamera npnamu H ocnemaew cocwoxmnü H 3 npHsMu H ncnmryenoro oöbexra HHTEDÓGPOMETD Quso. Orpaxennmň or nnocxocrn runorenysu npnsmu H or noaepxuocrn ucnuwyeuoro oőaexra cner noxnnaer npnauy qepes nnocxocrs npyroro Kamera, nocne qero nonanaer Ha aropoe orxnounmmee aepxano. Orpaxeunmñ or Hero caer npoxonr qepe 3 nepnuú Konnnmnpymmnň oözexrna Myaponovo nuTepepoMeTpa, B mpxyce...

Zariadenie na zistovanie rovinnosti velkoplošných materiálov

Načítavanie...

Číslo patentu: 249925

Dátum: 15.04.1987

Autori: Mahút Juraj, Vacek Vladimír, Krakovský Alexander

MPK: G01B 5/28

Značky: velkoplošných, zisťovanie, zariadenie, materiálov, rovinnosti

Text:

...a o 1 až 06 sú namerané odchýlky vo vyzmačených bodoch.Na základe vypočítaných relatívných hodnôt odchýliek sa z výpočtovej tabuľky, ako je uvedená v prikladu 1, určia polomery krivosti a/alebo velkosti odchýliek na 1 m vo všetkých ôsmich smeroch.Na pripojených výkresoch je znázornený príklad vyhotovenia zariadenia na meranie rov-innosti veľkoplošných materiálov podľa vynálezu. N 28. obr. 1 je znázornená rozmiestnenie pevných bodov A, B, C...

Zařízení pro zjišťování vad rovinnosti plochých desek, zejména keramických

Načítavanie...

Číslo patentu: 219212

Dátum: 15.08.1985

Autor: Čižinská Olga

Značky: keramických, plochých, desek, zařízení, zejména, zjišťování, rovinnosti

Zhrnutie / Anotácia:

Vynález se týká způsobu zjišťování vad rovinnosti plochých desek, zejména keramických podložek pro hybridní integrované obvody a zařízení pro tento způsob. Vynález řeší konstrukční uspořádání přípravku, který zjišťuje vady rovinnosti pneumaticky na základě přisání podložky k pracovnímu stolu. Podstata způsobu spočívá v tom, že plochá deska se přisaje k rovné pracovní desce pneumaticky. Podstata zařízení je v tom, že neprodyšný stůl, opatřený...

Zařízení na měření úchylek rovinnosti ploch stavebních dílců

Načítavanie...

Číslo patentu: 225680

Dátum: 01.07.1985

Autor: Wetterschneider Marcel

Značky: ploch, měření, dílců, úchylek, zařízení, rovinnosti, stavebních

Zhrnutie / Anotácia:

Zařízení na měření úchylek rovinnosti ploch stavebních dílců, vyznačené tím, že sestává ze čtyř stojánků (1) a dvou elektricky vodivých strun (25) spojujících úhlopříčné dvojice stojánků (1) přičemž se vzájemné dotýkají a jsou na stojáncích (1) vedeny přes výškové kalibrované podpěry (18) a propojeny do elektrického okruhu se signalizačním zařízením (2) pro signalizaci vzájemného dotyku elektricky vodivých strun (25), přičemž každá dvojice...