Patenty so značkou «odchylok»

Prístroj na meranie odchýlok tvaru reflektorov

Načítavanie...

Číslo patentu: U 4776

Dátum: 07.06.2007

Autor: Veselovský Ján

MPK: G01J 1/00, G01J 1/04

Značky: meranie, prístroj, tvaru, reflektorov, odchylok

Text:

...súradnicami 10 a 11 voči priemetu optickej osi 12 reflektora 3 líšiacimi sa od teoretického bodu 13, ktorý má teoretickú polohu danú súradnicami 14 a 15 voči priemetu optickej osi 12 reflektora 3 podľa veľkosti chyby tvaru reflektora 3.Prístroj na meranie odchýlok tvaru reflektorov podľa obrázku č. l pracuje tak, že po zapojení elektrického prúdu do kolimátora 5 a nastavení vhodnej polohy otočného zrkadla 4 v ohnisku reflektora 3 sa svetelný...

Spôsob kontroly pre rozoznávanie odchýlok geoobjektov

Načítavanie...

Číslo patentu: E 12092

Dátum: 01.08.2006

Autor: Petroczi Julius

MPK: G07B 15/00

Značky: kontroly, rozoznávanie, spôsob, odchylok, geoobjektov

Text:

...jednotka má približne veľkosť autorádia amôže byť väčšinou vložená do normovaného ukladacieho priestoru pre autorádiá alebo namontovaná na prístrojovú dosku priestoru pre vodiča. Ktoré úseky trasy, na ktorých sa platí za prejazd, boli konkrétne použité účastníkmi mýtneho a sú spojene s poplatkom, môže byť zistené rôznymi navigačnými systémami, ktoré spolupracujú s detckčnou jednotkou. Bežné je príkladne užívanie satelitných systémov pre...

Plný valček na zisťovanie odchýlok od rovinnosti

Načítavanie...

Číslo patentu: E 4368

Dátum: 17.01.2003

Autori: Neuschütz Eberhard, Mücke Gerd

MPK: G01L 5/04, B21B 38/00, G01B 7/34...

Značky: valček, plný, rovinnosti, zisťovanie, odchylok

Text:

...povrchu rúrky. Podobné problémy vznikajú vtedy, ak je potrebné za tepla nasadit nie povrchovú rúrku, ale veľký počet povrchových krúžkov na valcovanételeso. Vtom prípade môže prist ktomu, že na miestach styku krúžkov samôžu tvorit malé obiehajúce trhliny, ktoré môžu viest k negatívnemu vplyvu nakvalitu (resp. poškodeniu) povrchu pásu, ktorý je vedený cez merací valček.0008 Ďalšia nevýhoda používania povrchových rúrok alebo krúžkov vyplýva...

Zariadenie na elimináciu odchýlok

Načítavanie...

Číslo patentu: U 1946

Dátum: 09.09.1998

Autori: Votruba Vítězslav, Sobotka František

MPK: B66C 13/12, H02G 11/00

Značky: elimináciu, odchylok, zariadenie

Text:

...rozmerovo voliteľného obdĺžnika. Do tohto priestoru je možné uložit ľubovolné množstvo nosičov energie (el. káble optické káble, hydrauliku, pneumatiku,chladiace médiá apod.). Podľa potreby je možné jednotlivé nosiče energie od sebe horizontálne aj vertikálne oddeliť priečkami. Reťazec je zostavený z jednotlivých článkov. Tým je možné vy tvoriť ľubovolnú dlžku reťazca potrebnú na uloženie nosičov energie.Podľa najväčšieho priemeru...

Zariadenie na eliminovanie odchýlok polohy centračných elementov podvozka a nadstavby

Načítavanie...

Číslo patentu: U 1811

Dátum: 06.05.1998

Autor: Janík Pavol

MPK: B62D 24/00, B62D 33/00

Značky: centračných, polohy, nadstavby, eliminovanie, odchylok, zariadenie, podvozka, elementov

Text:

...puzdier, ktorých vnútorné aj vonkajšie povrchy sú valcové,vonkajší povrch každého puzdra je situovaný excentricky voči svojmu vnútornému povrchu, pričom dvojica puzdier je nasadená vnútorným puzdrom na valcový čap upevnený na podvozku a zapadá vonkajším povrchom vonkajšieho puzdra do cen tračného otvoru V nadstavbe.Prehľad obrázkov na výkreseZariadenie je znázornená pomocou výkresu, kde na obrázku 1 je znázornený jeho funkčný stav, na...

Zariadenie na meranie odchýlok priamkovitosti a kolmosti

Načítavanie...

Číslo patentu: 267305

Dátum: 12.02.1990

Autori: Zgodavová Kristína, Slimák Ivan, Marušinová Klára

MPK: G01B 5/00

Značky: priamkovitosti, meranie, zariadenie, odchylok, kolmosti

Text:

...na meranie priamkovitosti a kolmonti sa liší tým, že o sebe známa strona je umiestnená v napínacom stojane s podotavoom a -anímacie zazviadenie tvorené merecím vozíkom s obojstranným meracím dotykom nssúcim dvojicu indukčnych snímačov as pohybuje na vodiacom stojane upevnenom na tom istom podstavci ako napínscí stojan. Tým sa vylúči pôsobenie snímacej sily obojstranněho meraciebo dotyku na napinací stojan a tým aj polohu struny. čím sa...

Optoelektronický infračervený snímač na meranie odchylok menovitých rozmerov a drsnosti povrchu

Načítavanie...

Číslo patentu: 256711

Dátum: 15.04.1988

Autori: Volčko Vladimír, Volčko Jaroslav

MPK: G01B 11/30

Značky: odchylok, menovitých, meranie, infračervený, povrchu, optoelektronický, snímač, drsnosti, rozmerov

Text:

...a je nasledovnáMeranie rozmerovej odchýlky podľa obr. k2 je založené na zákone omu a odrazu svetla, ktorý závisí od rozmeru súčiastky. Zdrojom infračerveněho žiarenia 9 je napr. luminiscenčná dióda, ktorá je umiestnená vo voliteľnej vzdialenosti pod osou obrobku. Voľbou vzdialenosti sa zväčšuje alebo zmenšuje rozsah meraní-a. Povrch obrobku odráža dopadajúci lúč na vyhodnocovací fotodetektor 11, ktorého poloha zodpovedá danému uhlu...