G01R 31/26

Zariadenie na meranie komutačných strát výkonových tranzistorov

Načítavanie...

Číslo patentu: U 5198

Dátum: 05.06.2009

Autori: Šul Róbert, Špánik Pavol, Frívaldský Michal, Drgoňa Peter

MPK: G01R 31/26

Značky: meranie, zariadenie, komutačných, výkonových, tranzistorov, strát

Text:

...strát.Výkonová časť (tranzistory T 1 a T 2) je napájaná napätím, ktoré je možné nastavovať od O do 400 V. Ako zdroj pre riadiace a budiace obvody slúži DC/DC menič, ktorý má privedené napätie 15 V z laboratómeho zdroja.Ako riadiaci obvod je použitý mikroprocesor a ako užívateľské rozhranie sú použité tlačidlá spolu s LCD displejom. Riadiaci mikroprocesor generuje PWM signály pre tranzístory Tl a T 2. Modiñkácia riadiaceho a spínacieho...

Spôsob kontroly výkonových polovodičových prvkov

Načítavanie...

Číslo patentu: E 6230

Dátum: 15.10.2003

Autori: Herzer Reinhrad, Lehmann Jan, Netzel Mario, Pawel Sascha

MPK: G01R 31/02, G01R 31/28, G01R 31/26...

Značky: kontroly, spôsob, výkonových, prvkov, polovodičových

Text:

...prvku,napriklad V prípade IGBT ako vodiaca plôška riadiacej elektródy(ll). spojenia s izolovanou medenou plochou (16, 18, 19) podložky DCB sa realizujú drôtovými spojmi (12, l 3, l 4). Drôtenéspoje majú pritonx taktiež rozličné funkcie. Spojovacie drôtypotrebné na vedenie hlavného prúdu sa označujú ako spojovacie drôty emitora (14), spojovacie drôty potrebné pre aktivačné zapojenie sa označujú ako spojovací drôt riadiacej...

Spôsob stanovenia koncetrácie NBef efektívneho náboja bariéry v prekompenzovaných polovodičoch

Načítavanie...

Číslo patentu: 277700

Dátum: 06.07.1994

Autori: Dubecký František, Olejníková Božena

MPK: G01R 31/26, G01N 27/22

Značky: náboja, efektívneho, spôsob, stanovenia, prekompenzovaných, koncetrácie, polovodičoch, bariéry

Zhrnutie / Anotácia:

V polovodičoch, prekompenzovaných hlbokými prímesami, sa koncentrácia efektívneho náboja bariéry stanovuje analýzou C-U závislosti podľa vzťahu I. Z prekompenzovaného polovodiča sa pripraví dvojelektródová štruktúra s krátkou bázou dĺžky 2 mikrometre až 100 mikrometrov s kovovými elektródami, alebo polovodičovými elektródami druhého typu vodivosti s koncentráciou ionizovaných prímesí 10exp(17)cm-3 až 10exp(20)cm-3, na ktoré sa privedie...

Impulsní zdroj proudu

Načítavanie...

Číslo patentu: 274886

Dátum: 12.11.1991

Autor: Macháč Petr

MPK: G05F 1/10, G05B 11/26, G01R 31/26...

Značky: proudu, zdroj, impulsní

Zapojení pro měření prahového napětí vstupních tranzistorů unipolárních integrovaných obvodů

Načítavanie...

Číslo patentu: 270475

Dátum: 13.06.1990

Autor: Bubeníček Petr

MPK: G01R 31/26

Značky: napětí, zapojení, obvodů, tranzistorů, měření, vstupních, integrovaných, prahového, unipolárních

Text:

...obvodu A za účelom připojení nepájooího napětí. Druhý výstup 33 napájocího zdroje Bje spojen se spoločnou zemnící svorkou g. restovaný vstup 2 Ateatovaného integrovaného obvodu A je spojen s prvním výstupom çl zdroje g spojitě proměnného nepětí za účelom buzení testoveněho integrovaného obvodu L a současně je spojen se vzorkovacím vstupom g vzorkovaeího obvodu Hza účelom vzorkování hodnoty proměnnéhonapětí. První vstup 2 Lç zdroje çspojitě...

Obvod pro měření průrazných napětí polovodičových součástek

Načítavanie...

Číslo patentu: 267534

Dátum: 12.02.1990

Autor: Láznička Pavel

MPK: G01R 31/26

Značky: obvod, průrazných, polovodičových, součástek, měření, napětí

Text:

...k zápornému pőlu zdroje Q vysokého napětí s vysokonapěĺoveho kondenzátoru 2, druhý pôl merené součástky 13 je přes bočník 2 spojen s kostrou přístroje. Dělíč napětí gložený 2 prvního a druhého rezístoru Z a Q je zapojen nezí záporný pol vysokonapěttvého kondenzátoru 5 a kostru přístroje. První konec druhého rezístoru Q je spojen s prvním vstupem 131 a jeho druhý konec je spojen s druhým vstupe 133 díferencíálního zesílovaće 13 napětí. rvní...

Způsob detekce vnitřních zkratů na interdigitalizovaných strukturách v zapouzdřených polovodičových součástkách

Načítavanie...

Číslo patentu: 265361

Dátum: 13.10.1989

Autori: Zamastil Jaroslav, Homola Jaroslav, Muller Ilja, Škaloud Miroslav

MPK: H01L 21/66, G01R 31/26

Značky: strukturách, detekce, součástkách, interdigitalizovaných, polovodičových, zapouzdřených, zkratu, způsob, vnitřních

Text:

...elektrody a katody výše uvedené zkraty detekovat nelze,protože tyristorová struktura mezi vývodem řídící elektrody a katodou pomocného tyristoru vnáší do měřícího obvodu sériový odpor, který je mnohem větší, než. velikost odporu mezi katodovou elektrodou a katodcu pomocného tyristoru u nezkratované struktury. známé způsoby detekce zkratů tedy neumožňují provádět výstupní kontrolu zapouzdřených součástek,a nelze takzabránit expedování součástek...

Zapojenie obvodov na meranie číslicovo-analógových prevodníkov

Načítavanie...

Číslo patentu: 245323

Dátum: 15.12.1988

Autori: Kerekes Jeno, Kassai Ferenc

MPK: G01R 31/02, G01R 31/28, G01R 31/26...

Značky: obvodov, zapojenie, meranie, číslicovo-analógových, prevodníkov

Text:

...prúd/napätie, spínač 5 a první oddelovací sledovač 8 na jeden vstup diierencialneho zosilňovače B je pripojený výstup druhého oddelovacieho sled-ovača 9 pripojeného cez prepínač 4 na deiič 3. Výstup diferenciáineho zosilňovače 6je pripojený na vstup analógového multiplexéra 10, ktorého výstup je pripojený na vstup analógovo-číslicového prevodníka 7. Výstup analogovo-číslicového prevodníka 7 je pripojený na počítač 11. Cez analógový...

Zařízení k měření modulačních vlastností polovodičových injekčních laserů

Načítavanie...

Číslo patentu: 259334

Dátum: 17.10.1988

Autori: Kratěna Ladislav, Ždánský Karel

MPK: H01S 3/19, G01R 31/26, H01L 3/19...

Značky: měření, laseru, modulačních, injekčních, polovodičových, vlastností, zařízení

Text:

...jednak na vstup vzorkovacího oscilografu 3 a jednak každý pres oddělovací odpory lg, ll na svorky A zkoušené laserové diody Q zasazené v pouzdru § spolu s detektorem 1, jehož výstupní svorka g je spojene se stejno~ směrným nanoampérmetrem 3.Generátor 3 dlouhých impulsů generuje nosné impulsy, které určují zvolený pracovní bod zkoušené laserové diody g. Jejich délka, smplituda a doba zpoždění vzhledem ke spouštěcímu impulsu se nastavují dle...

Obvod pro měření proudového zesilovacího činitele tranzistorů

Načítavanie...

Číslo patentu: 258966

Dátum: 16.09.1988

Autor: Láznička Pavel

MPK: G01R 13/02, G01R 19/10, G01R 17/02...

Značky: obvod, činitele, tranzistorů, proudového, měření, zesilovacího

Text:

...A. Emitor měřeného tranzistoru.Aje dále spojen s druhým výstupem 11 zdroje 2 bázového proudu. Výstup §§ diferenciálního zesilovače§ je spojen s druhým vstupem gg komparátoru 3,jehož výstup 22 je spojen s prvním vůtupem łgł klopného obvodu łá. Jeho výstup lg je spojen s prvním vstupom lg vratného čítače łł, jehož první výstup łłg je spojen s prvním vstur pem 1 klíčovacího obvodu 1. Výstup 1 klíčovacího obvodu 1 je spow jen s druhým vstupom gg...

Analyzátor energií elementárních částic

Načítavanie...

Číslo patentu: 258565

Dátum: 16.08.1988

Autor: Fišer Jan

MPK: H01L 21/66, G01N 23/08, G01R 31/26...

Značky: energií, elementárních, částic, analyzátor

Text:

...výhodou analyzátoru je zvýšení jeho rozlišovací schopnosti, zadrží pozadí signálu vytvořeného částicemi prošlými otvorem analyzační mřížky. Značně se omezí Vliv extrakčních polí na primární svazek elementárních částic a sníží se vliv terciálních částic.Vynález blíže qpjasní přiložený výkres, na kterém je znázorněn ve zjednodušeném náčrtku analyzátor v osovém řezu.Analyzátor tvoří jednak extrakční prostor 2 a jednak brzdné pole lg...

Zařízení pro testování logických obvodů a odporů na osazené desce plošného spoje

Načítavanie...

Číslo patentu: 258388

Dátum: 16.08.1988

Autori: Kolliner René, Mattausch Pavel, Kubát Richard, Uhlíř Karel, Strnad Pavel, Pokorný Zdeněk

MPK: G01R 31/26, G01R 31/00, G01R 31/28...

Značky: plošného, testování, osazené, desce, odporu, obvodů, zařízení, logických, spoje

Text:

...sběrnicového výstupu bloku lg volby logického testu a jeho třetí sběrnicový vstup łjg je propojen do třetího sběrnicového výstupu bloku lg adres kroku testu obsaženého v bloku lg řídících signálu, jenž současně obsahuje blok lg časovacích signálu a blok lgł hodin, jehož vstup lglł je přiveden k druhému výstupu řídicího počítače lg a současně prvý sběrnicový vstup łggl bloku lg řídíoích signálu je zapojendo druhého sběrnicového výstupu bloku...

Zapojení pro měření spínacích dob výkonových tranzistorů

Načítavanie...

Číslo patentu: 256443

Dátum: 15.04.1988

Autori: Bureš Josef, Jarolím Josef

MPK: G01R 31/26

Značky: spínacích, měření, zapojení, výkonových, tranzistorů

Text:

...jo spojon so vstupan prvního řízanćho zdroja. Kladaý výstup druhtho řízontho zdrojo jo spojon současně so druhýn vstupss sčítscího bodu třstího rsgulůtoru as kladný polos druhů kondonzàtorovb batsrío. Jojí tporný půl jo spojon as ztpornýs výstupoa druhbho řízonćho zdroja. Kladný výstup prvního řízonoho zdroje jo spojos jsdnak s druhý vstuo psa sčítacího bodu druhého rogulútoru, jednak s druhý vstupsa sčítacího bodu prvního ragulttoru a s...

Obvod pro měření propustného napětí polovodičových součástek, zejména diod a tyristorů

Načítavanie...

Číslo patentu: 242051

Dátum: 01.02.1988

Autori: Polorecký Vladimar, Mahút Juraj

MPK: G01R 31/26

Značky: součástek, propustného, polovodičových, zejména, měření, napětí, obvod, tyristorů

Text:

...paměti j a výstup g první přechodově paměti 3 Jou připojeny k prvnímu vstupu gg aťdruhému vstupu 11 rozdílového zesilovače 5. moda měřeněho polovodičového prvku lv je prostřednictvím měrného bočníku p připojena ke vstupu gg bloku 4 vzorkovacích impulsů a současně prostřednictvím měrněho hrotu k prvnímu vstupu lg první přechodově paměti j. Výstup ä bloku A vzorkovacích impulsñ Je připojen k druhěmulogickému vstupu 23 první přechodové...

Zapojení diagnostického obvodu výkonového polovodičového prvku

Načítavanie...

Číslo patentu: 240842

Dátum: 01.01.1988

Autori: Banda Imrich, Bustinová Branislava, Blaško Imrich, Eechovie Rudolf

MPK: G01R 31/26

Značky: zapojení, výkonového, diagnostického, prvků, obvodů, polovodičového

Text:

...l je spojene s nulovousvorkou gł obvodupro zpracování řídicích optických impulsů tyristoru 2. Druhá výstupní svorka 11 napájecího zdroje .L je spojenese vstupní svorkou 2 J. obvodu pro zpracování řídicích optických im pulsůutyristoru 2. První výstupní svorka g obvodu pro zpracování řídicích optických impulsů tyristoru 2 je spojene se vstupní svorkou 1. napájecíbo zdroje ł. Druhá výstupní svorka g obvodu pro zpracování řídicích optických...

Nedestruktivní indikátor poruch v polovodičových součástkách s přechodem PN nebo přechodem kov-polovodič

Načítavanie...

Číslo patentu: 243094

Dátum: 15.11.1987

Autori: Bohuš Vojtech, Oroszlán Tibor, Pálenský Zdenik, Martincová 1ubica

MPK: G01R 31/26

Značky: nedestruktivní, indikátor, polovodičových, přechodem, součástkách, kov-polovodič, poruch

Text:

...dvou komparatorů, logickéhuo členu a indikačního zařízení.Schéma indikatoru poruch v polovodičových součästkách je na obr., kde 1 značí zdroj stejnosměrného proudu, 2 - měřič stejnosměrnéhow napětí, 3 - druhý komparábor, 4 - logický člen, 5 zesilovač šumového signálu, 6 - první komparátor, 7Zesilovač 5 šumového signálu je připojen vstupem na měřenou součástku D a výstupem na první komparátor 6, měřič 2 stejnosměrného napětí je vstupem...

Zapojenie analyzátora prechodovej kapacity

Načítavanie...

Číslo patentu: 244969

Dátum: 15.11.1987

Autor: Wille Lothar

MPK: G01R 27/26, G01R 31/26, G01R 27/00...

Značky: kapacity, analyzátora, prechodovej, zapojenie

Text:

...preohodovej kapacity.Na obr. 1 je výstup vysokofrekvenčného generátora 1 spojený so vstupom a excitačného blolku 2, s referenčným vstupom b lock-in zosilňovače 3, použitého ako .merača kapacity a so vstupom c riadiaceho bloku 4. Na svorky d a e excitačného bloku 2 sa pripojí vyšetrovaný objekt a výstup ľ je spojený s lock-in zosilňovačom 3, na výstup g, kt-orého je pripojený vyhodnocovací blok 5 a v prípade potreby aj osciloskop. Na výstup m...

Obvod pro měření doby života minoritních nositelů náboje v monokrystalu polovodiče

Načítavanie...

Číslo patentu: 239126

Dátum: 01.11.1987

Autori: Klasna Miloš, Samek Jiří

MPK: G01R 31/26, G01R 17/00

Značky: monokrystalů, nositelů, polovodiče, obvod, měření, náboje, minoritních, života

Zhrnutie / Anotácia:

Obvod pro měření doby života minoritních nositelů náboje v monokrystalu polovodiče, využívající metodu náběhu fotovodivosti. Účelem zapojení je odstranění nevýhod používaných obvodů, zvětšení fotodetektivity měřicího obvodu a přesnější a rychlejší odečítání naměřených hodnot. Uvedeného účelu se dosáhne pomocí obvodu složeného z generátoru časových impulsů, spojeného s monostabilním multivibrátorem, který je spojen s impulsním zdrojem...

Zapojení obvodu pro vyhodnocování stavu elektrotechnických součástek

Načítavanie...

Číslo patentu: 240596

Dátum: 15.08.1987

Autori: Archipov Vladimir Viktorovie, Ajrapetjan Aram Surenovie, Kolesnikov Jevgenij Fjodorovie, Povaljajev Anatolij Petrovie

MPK: G01R 31/26

Značky: zapojení, součástek, stavu, vyhodnocování, elektrotechnických, obvodů

Text:

...1 je znázorněno blokové schéma zapojení obvodu pro vyhodnocování tyristorového sloupce, tvořeného vyhodnocovacím obvody tyristorů 11 až 1 n, vyhodnocovacím blokem 2 sloupce tyristorů a přizpůsobovacím blokem 3. Do vyhodnocovacích bloků tyristorů 11 až 1 n se zavádějí optické signály 01 až On a dále na vstupy 111,až 11 n výstupní signál z výstupu 1 generátoru zapí nacích impulsů. Výstupy 1.21 až 12 n vyhod nocovacích obvodů tyristorů 11 až 1 n...

Obvod pro automatické vyhodnocení vypínací doby tyristorů

Načítavanie...

Číslo patentu: 240233

Dátum: 15.06.1987

Autori: Macho Ján, Bednáo Jioa

MPK: G01R 31/26

Značky: obvod, vypínací, automatické, tyristorů, vyhodnocení

Text:

...měrného bočníku 29 připojena k druhému vstupu 44 bio ku 42 vyhodnocení prohoření. Výstup 41 zdroje .39 řid-icichimpulsů je» připojen ke vstupu 2 prvního časovacího obvodu 1. Vstup 38 zdroje 35 du/dt je připojen k výstupu 13 druhého časovacího obvodu 16. Výstup 45 bloku 42 vyhodnoce-ní prohoření je spojen s třetím datovým vstupem 10 aproximačního registru B. Výstup 3 prvni, ho časovacího obvodu 1 je spojen současněs prvním...

Obvod pro měření zotavovacích vlastností tyristorů a diod

Načítavanie...

Číslo patentu: 240700

Dátum: 01.06.1987

Autor: Pelikán Petr

MPK: G01R 31/26

Značky: měření, zotavovacích, obvod, tyristorů, vlastností

Text:

...závěrného proudu začíná na kladném pőlu druhé kondenzátorové baterie §, spojené a kladným pőlem druhého zdroje 3 napětí,pokračuje spojem s anodou tyrietorového spínače lg, z katody tyrietorového spínače přes proměnnou indukčnost gg na katodu měřeného prvku 5, z anody měřeného prvku přes bočník 1 na záporný pől druhé kondenzátorové baterie §, spojený se záporným pőlem druhěho zdroje 2 napětí. Obě smyčky mají spoločnou tu část, ve které je...

Způsob stanovení vadného tranzistoru zapojeného libovolným způsobem na elektrické jednotce pomocí sondy měřící saturační stav tranzistorů

Načítavanie...

Číslo patentu: 240177

Dátum: 01.06.1987

Autori: Kiškilov Vasil Borisov, Sofijanski Christo Stifanov

MPK: G01R 31/26

Značky: elektrické, jednotce, pomocí, měřicí, libovolným, saturační, tranzistorů, způsobem, sondy, způsob, stanovení, vadného, zapojeného

Text:

...jiným metodám. Lze jí odstranit na libovolném sortimentu elektronických jednotek složité závady způsobené vadnými tranzistory. Pro zjíštování závad není nutná přesné znalost signálu v obvodech, proto metodou mohou pracovat i méně kvalifikovaní pracovníci. Zjištování vadných tranzistorů se provádí mimo zařízení a tím jsou vytvořeny podmínky pro úsporu strojovéhoNa výkresu je značen příklad zapojení pro stanovení vadného tranzistoru...

Obvod pro měření zapínací doby spínacích polovodičových součástek

Načítavanie...

Číslo patentu: 239549

Dátum: 01.06.1987

Autori: Paleeek Jaroslav, Eerný Miloslav

MPK: G01R 31/26

Značky: měření, obvod, zapínací, polovodičových, součástek, spínacích

Text:

...g řídícíou impulsů s prvním hodinový vetua pem gg prvního klopuého obvodu gł. Výstup A zesilovače. g řídících ímpulsů je spojen s řídící olektrodou měřonó polovodičové součástky 1 .jejíž ksteds je připojens na vstup g děličo g napätí. Výstup 1,9 děliče g napětí je spojon s prvním snslogovým vstupom u přechodově paměti li a prvním vstupom 15 kompsrátoru u. Výstup g čssovscího obvodu l jo spojen s druhým l-ogiekým vstupom gg přechodové...

Zapojení k měření polovodičových diod pro teploměrné účely

Načítavanie...

Číslo patentu: 242797

Dátum: 15.05.1987

Autor: Hanousek Vítizslav

MPK: G01R 31/26

Značky: polovodičových, účely, zapojení, měření, teploměrné

Text:

...dále připojen poslední kontakt přepínaěe.Jednotlivé spoje sousedních diod baterie jsou propojeny vždy s jedním kontaktem přepínače. Digitální voltmetr je paralelné připojen ke dvěma sběračüm přepínače, které v každé poloze přepínače jsou vždy spojeny se dvěma sousedními kontakty přepínače, jež jsou paralelně spojený s měřenou diodou baterie. Napětí na měřených diodách se tak měří postupným paralelním připojováním digitálního voltmetru k...

Zariadenie pre testovanie polovodičových prvkov

Načítavanie...

Číslo patentu: 238812

Dátum: 15.05.1987

Autori: Chamraz Jozef, Kubo Jozef

MPK: G01R 31/26

Značky: zariadenie, prvkov, polovodičových, testovanie

Zhrnutie / Anotácia:

Vynález rieši zariadenie pre testovanie polovodičových prvkov. Podstata vynálezu je znázornená na obr. č. 1, a obr. č. 2. Kde blok (1) predstavuje riadiacu pamäť mikroprogramu, z ktorej inštrukčné slovo rozdelené do príslušných mikrokódov prichádza na jednotku riadenia programového programu (2). Táto jednotka riadi spolu s príslušnými mikrokódmi prichádzajúcimi z inštrukčného slova pamäti mikroprogramu (1) činnosť jednotky generovania dát (3) a...

Bezkontaktní způsob měření rekombinace nositelů náboje v polovodičových deskách

Načítavanie...

Číslo patentu: 238743

Dátum: 16.03.1987

Autor: Hlávka Jan

MPK: G01R 31/26

Značky: náboje, způsob, nositelů, polovodičových, bezkontaktní, měření, rekombinace, deskách

Zhrnutie / Anotácia:

Způsob měření objemové a povrchové rekombinace nositelů náboje v polovodičových deskách, při kterém není nutné vytvořit k měřeným deskám elektrické kontakty. Uvedeného účelu se dosáhne měřením velikosti magnetického pole fotomagnetoelektrického cirkulačního proudu vytvořeného ve sledované polovodičové desce. Vzhledm k tomu, že měření je snadné, rychlé, nezpůsobuje kontaminaci polovodičových desek, měřicí zařízení je jednoduché a levné, může být...

Obvod pro bezztrátové měření kmitočtové zatížitelnosti výkonových tranzistorů

Načítavanie...

Číslo patentu: 237012

Dátum: 15.02.1987

Autori: Láznička Pavel, Bureš Josef, Jarolím Josef

MPK: G01R 31/26

Značky: bezztrátové, výkonových, obvod, měření, zatížitelností, kmitočtově, tranzistorů

Zhrnutie / Anotácia:

Účelem vynálezu je zmenšení spotřeby elektrické energie při měření a zvýšení jeho přesnosti. Uvedeného účelu se dosáhne zapojením obvodu podle vynálezu, který je složen z regulovaného zdroje napětí, pulsního měniče, regulátoru pulsního měniče a bloku řízení, aktivních a pasivních součástí. V obvodu je zapojen kondenzátor, představující zdroj napětí a velká filtrační indukčnost, chovající se jako zdroj proudu. Měřený tranzistor je zatěžován buď...

Obvod pro měření blokovacích a závěrných napětí polovodičových součástek, zejména tyristorů a diod

Načítavanie...

Číslo patentu: 232461

Dátum: 15.06.1986

Autori: Bureš Josef, Kubant Svatopluk

MPK: G01R 31/26

Značky: tyristorů, blokovacích, součástek, měření, polovodičových, obvod, zejména, napětí, závěrných

Zhrnutie / Anotácia:

Účelem vynálezu je samočinné nastavení napětí pro měření a zamezení možnosti překročení dovoleného proudu polovodičovou součástkou. Není nutné použití osciloskopu a obsluha je zjednodušena. Uvedeného účelu se dosáhne pomocí obvodu, který je složen ze zdroje střídavého napětí, omezovače konstantního proudu, komparátoru, zdroje referenčního napětí a bloku vyhodnocení. První svorka zdroje střídavého napětí je připojena k první elektrodě měřeného...

Obvod pro měření doby zotavení polovodičových součástek

Načítavanie...

Číslo patentu: 230798

Dátum: 01.04.1986

Autori: Jarolím Josef, Bureš Josef

MPK: G01R 31/26

Značky: měření, polovodičových, součástek, zotavení, obvod

Zhrnutie / Anotácia:

Účelem vynálezu je urychlení a zpřesnění měření doby zotavení polovodičových součástek pomocí jednoduchého obvodu. Uvedeného účelu se dosáhne použitím obvodu složeného z měrného bočníku, zesilovače signálu, paměťového bloku vrcholové hodnoty, komparátorů, generátoru impulsů, děliček, obvodů logického součinu a součtu a čítače. Výstupní signál z měrného bočníku je zpracován v zesilovači signálu, bloku vrcholové hodnoty a komparátorech a přiveden...

Zapojení obvodu pro bezeztrátové komplexní měření dynamických parametrů diod a tyristorů

Načítavanie...

Číslo patentu: 230795

Dátum: 01.04.1986

Autori: Bureš Josef, Jarolím Josef

MPK: G01R 31/26

Značky: zapojení, obvodů, bezeztrátové, tyristorů, parametrů, měření, dynamických, komplexní

Zhrnutie / Anotácia:

Předmět vynálezu se týká zapojení obvodu pro bezeztrátové komplexní měření dynamických parametrů diod a tyristorů. Zapojeni obvodu sestává z obvodu propustného proudu tvořeného dvěma LC obvody zapojenými do série. Paralelně k LC obvodům je přes první proměnnou indukčnost zapojena větev sestávající z měřeného prvku, čidla proudu, z diody a tyristoru. Obvod měřeného prvku sestává z obvodu pomocného kmitu a obvodu generátoru blokovacího napětí....