G01R 17/00

Zapojení pro vyhodnocení a signalizaci odpojení čí ztráty kapacity akumulátoru

Načítavanie...

Číslo patentu: 265939

Dátum: 14.11.1989

Autor: Stuchlík Stanislav

MPK: H01M 10/48, H01M 10/46, G01R 17/00...

Značky: akumulátorů, odpojení, zapojení, ztráty, vyhodnocení, signalizaci, kapacity

Text:

...§ a vyhodnocovací obvod A.Napájecí zdroj l slouží k napájení k němu připojenému zařízení a k dobíjení a udržování akumulátoru g. Akumulátor g je zdrojem energie pro napájené zařízení při výpadku napájecíJe spojen s napájecím zdrojem l přes primární vinutí gl, které může být zapojeno l napájí též generátor 3 střídavého napětí, 3. Primární vinutí âł představujeho zdroje l. v kladné nebo záporné větvi. Napájecí zdroj jehož výstup je spojen s...

Transformátorový můstek pro měření impedancí malých hodnot

Načítavanie...

Číslo patentu: 265931

Dátum: 14.11.1989

Autor: Boháček Jaroslav

MPK: G01R 17/10, G01R 17/00, G01R 27/00...

Značky: můstek, transformátorový, hodnot, impedancí, malých, měření

Text:

...pro vstup oddělovacího stupně 1 odebíralo pouze z prvního odporového etalonu gnl, přesnost měření by byla nepříznivě ovlivněna chybou převodu proudového transformátoru ł, způsobenou nenulovým zatěžovacím odporem sekundárního vinutí. Pokud se však na vstup oddělovacího stupně 1 přlvede součet napětí na prvním a druhém odporovémetalonu gnl a gnz, chyba měření způsobené zatížením prvním odporovým etalonem gnl se doPomocný transformátor Q 5...

Zariadenie pre zisťovanie hraníc zvarových spojov s fázovou diskrimináciou oddialenia

Načítavanie...

Číslo patentu: 261532

Dátum: 10.02.1989

Autori: Cibík Vladimír, Kuna Martin

MPK: G01R 17/00, G01N 24/00, G01N 24/14...

Značky: zariadenie, oddialenia, zvarových, fázovou, zisťovanie, spojov, diskrimináciou, hranic

Text:

...paralelne ku kolektorom tranzistorov iázového rozlíšenia,na ktoré je súčasne sériovo pripojený zatažovací odpor tranzistorov. Hlavné výhody zariadenia pre zisťovanie hraníc zvarových. spojov podľa vynálezu spočívajú v tom, že zariadenie zisťuje hranicezvarových spojov bez nutnosti zabrusovania kontrolovaného povrchu a následného naleptävanie kyselinou, pričom pomocou obvodu fázovej diskriminácie sa eliminuje inežiadúci vplyv miestneho...

Zapojení pro měření teploty kotev trakčních motorů

Načítavanie...

Číslo patentu: 238578

Dátum: 01.12.1987

Autori: Kopřiva Václav, Caničov Vlado

MPK: G01R 17/00

Značky: teploty, měření, zapojení, kotev, motorů, trakčních

Zhrnutie / Anotácia:

Zapojení se týká silnoproudé elektroniky a řeší měření teploty kotev trakčních motorů. Výstup proudového bočníku je spojen se vstupem napěťového zesilovače proudového signálu. Výstup napěťového zesilovače proudového signálu je připojen na první a druhý vstup násobicího členu, jehož výstup je připojen na vstup převodníku napětí - proud. Výstup převodníku napětí - proud je připojen na vstup fyzikálně teplotního modelu, jehož výstup je připojen na...

Obvod pro měření doby života minoritních nositelů náboje v monokrystalu polovodiče

Načítavanie...

Číslo patentu: 239126

Dátum: 01.11.1987

Autori: Samek Jiří, Klasna Miloš

MPK: G01R 17/00, G01R 31/26

Značky: monokrystalů, života, náboje, obvod, minoritních, nositelů, polovodiče, měření

Zhrnutie / Anotácia:

Obvod pro měření doby života minoritních nositelů náboje v monokrystalu polovodiče, využívající metodu náběhu fotovodivosti. Účelem zapojení je odstranění nevýhod používaných obvodů, zvětšení fotodetektivity měřicího obvodu a přesnější a rychlejší odečítání naměřených hodnot. Uvedeného účelu se dosáhne pomocí obvodu složeného z generátoru časových impulsů, spojeného s monostabilním multivibrátorem, který je spojen s impulsním zdrojem...

Zapojení teplotně kompenzovaného členu funkčního měniče

Načítavanie...

Číslo patentu: 234214

Dátum: 01.03.1987

Autor: Hanč Vladislav

MPK: G01R 17/00

Značky: měniče, funkčního, členu, kompenzovaného, zapojení, teplotně

Zhrnutie / Anotácia:

Mezi první a druhý odpor odporového děliče členu funkčního měniče je zapojen kolektora emitor tranzistoru. Kolektor tranzistoru je spojen přes polovodičový prvek s výstupem zapojení. Báze tranzistoru je spojena se společným pólem zapojení. Vlivem teplotní závislosti přechodu báze emitor je tepelně závislý i proud kolektoru a kompenzuje teplotní závislost diody. Místo diody je možno použít tranzistoru ve funkci diody. Vynálezu se využije k...

Způsob stanovení závady vadné jednotky osazené integrovanými obvody TTL nízké nebo střední hustoty integrace pomocí sondy měřící šum

Načítavanie...

Číslo patentu: 235782

Dátum: 01.12.1986

Autor: Šedý Václav

MPK: G01R 17/00

Značky: způsob, pomocí, osazené, sondy, závady, obvody, nízké, stanovení, integrace, střední, integrovanými, vadné, měřicí, hustoty, jednotky

Zhrnutie / Anotácia:

Způsob stanovení závady vadné jednotky osazené integrovanými obvody TTL nízké nebo střední hustoty integrace pomocí sondy měřící šum. Účelem vynálezu je zlepšení současného stavu diagnostiky vadných výměnných jednotek. Uvedeného účelu se dosáhne tím, že místo měření logických stavů integrovaného obvodu se pomocí sondy měří šumové spektrum substrátové diody v propustném směru uvnitř integrovaného obvodu, které se převádí na zvukový signál, jenž...

Způsob stanovení závady vadné jednotky osazené integrovanými obvody TTL nízké nebo střední hustoty integrace pomocí sondy měřící impedanci

Načítavanie...

Číslo patentu: 235724

Dátum: 01.12.1986

Autor: Šedý Václav

MPK: G01R 17/00

Značky: závady, impedancí, integrace, střední, stanovení, jednotky, hustoty, pomocí, integrovanými, nízké, způsob, vadné, osazené, obvody, sondy, měřicí

Zhrnutie / Anotácia:

Účelem vynálezu je zlepšení současného stavu diagnostiky vadných výměnných jednotek. Uvedeného účelu se dosáhne tím, že místo měření logických stavů integrovaných obvodů se pomocí sondy měří impedance substrátové diody v propustném směru uvnitř integrovaného obvodu, zjištěná impedance se převádí na zvukový signál, který se porovnává se zvukovým signálem neporušeného přechodu, přičemž změna výšky tonu charakterizuje závadu. Postupným odpojováním...

Obvod pro měření relaxační doby nerovnovážných nositelů náboje v monokrystalu polovodiče

Načítavanie...

Číslo patentu: 236739

Dátum: 15.11.1986

Autori: Klasna Miloš, Samek Jiří

MPK: G01R 17/00, G01R 19/00

Značky: náboje, nerovnovážných, nositelů, obvod, monokrystalů, měření, polovodiče, relaxační

Zhrnutie / Anotácia:

Účelem řešení je odstranění nevýhod používaných obvodů, zvětšení fotodetektivity měřicího obvodu a automatické normování výstupního signálu fotoodezvy. Uvedeného účelu se dosáhne pomocí obvodu složeného z generátoru časových impulsů, spojeným s monostabilním multivibrátorem, ke kterému je připojen impulsní zdroj konstantního proudu. Dále ze zdroje infračerveného záření, který je napájen z napěťového zdroje a impulsního zdroje konstantního...

Zapojení transformátorového můstku pro měření impedance

Načítavanie...

Číslo patentu: 230390

Dátum: 15.11.1986

Autor: Faktor Zdeněk

MPK: G01R 17/00

Značky: impedance, zapojení, transformátorového, měření, můstku

Zhrnutie / Anotácia:

Zapojení transformátorového můstku pro měření impedance, zejména pro měření cívky, zapojené v jedné větvi můstku, s normálovou kapacitou a proměnným odporem v druhé větvi můstku, vyznačené tím, že paralelně k proměnnému odporu (P) zapojenému mezi oba konce třetí části (3) primárního vinutí transformátoru (Tr) je připojen otočný kondenzátor složený ze dvou částí (C1,C2), jejichž střed je spojen s jezdcem proměnného odporu (P) a přes pevný odpor...