Způsob záznamu a kvantitativního vyhodnocování obrazu na fotochemických materiálech

Číslo patentu: 232673

Dátum: 15.12.1986

Autor: Holan Jiří

Stiahnuť PDF súbor.

Zhrnutie / Anotácia

Vynález řeší problém konverze optických hustot fotografického záznamu na hodnoty expozice, osvětlení apod. s cílem vyloučit nutnost použití zvláštní měřicí aparatury. Na několika záznamech, pořízených s odlišnou celkovou expozicí, se vždy na několika vzájemně si odpovídajících místech změří absorpce záznamu, charakterizovaná optickou hustotou, činitelem prostupu či libovolnou jinou veličinou, která je monotónní funkcí optické hustoty. Z těchto hodnot se stanoví nebo aproximují dílčí charakteristiky, tj. závislosti absorpce na logaritmu veličiny, úměrné celkové expozici. Ze vzájemných posuvů charakteristik se stanoví rozdíly logaritmů expozice na jednotlivých vyhodnocovaných místech a z nich podle účelu vyhodnocování další veličiny, zejména osvětlení, hustota výkonu zářivého toku apod. Posunutím jednotlivých dílčích charakteristik o takto stanovené posuvy se získá celková konverzní charakteristika, použitelná jednak ke konverzi dalších údajů o absorpci vyhodnocovaného záznamu, jednak ke kontrole záznamového procesu.

Text

Pozerať všetko

(75) Autor vynález HOLAN mo RNDr., PRAHA54 Způsob záznamu a kvantitativniho vyhodnncování obrazu na fotochemických materiálechVynález řeší problém konverze optických hustot fotograficrkého záznamu na hodnoty expozice, osvětlení apod. s cílem vyloučit nutnost použití zvláštní měřicí aparatury.Na několika záznamoch, pořízených s odliš- ř O nou celkovou expozicí, se vždy na několikavzájemné si odpovidajících místech změřiabsorpce záznamu, charakterizovaná optic kou hustotou, činitelem prestupu či libovol-nou jinou veličinou, která je monotónní funkcí optické hustoty. Z těchto hodnot se stanoví nebo aproximují dílčí charakteristi- ky, tj. závislosti ub-soitpce na logaritmu veli- činy, úměrné celkové expozici. Ze vzájem ných posuvů charakteristík se stanoví rozdi ly logaritmů expozice na jednotlivých vyhod- k J nocovaných místech a z nich podle účelu vyhodnocování datlší veličiny, zejména osvět- lení, hustota výkonu zářivého toku apod. ą Posunutím jednotlivých dilčích charakteris~ tik o takto stanovené posuvy se získá celková konverzní charakteristika, použitelná jednak ke konverzi dalších údajů o absorpci vyhodnocovaného záznamu, jednak ke kontrole záznamového procesu.vynález se týká způsobu záznamu a kvantitativního vyhodnocovéní obrazu na fotochemických materiáloch, zejména při měření fotometrických .a radiometrických veličín.Základní úlohou fotografické fotometríe je stanovení hodnot fotometrických nebo radiometrických veličín, popřípadě jejich rozložení. Známý postup, vedoucí k tomuto výsledku, lze rozdělit do dvou základních kroků. V prvním z nich se měřená veličina,popřípadč její rozložení, zaznamená na totochemicky citlivou vrstvu. Odezva vrstvy,zpravidla po chemické zpracování, je mírou měřené veličiny a jejím číselným vyjárdřením je optická hustota, činitel optického postupu nebo jiná veličina, charakterizující ahsorpční či iodlrazné vlastnosti ZáZlnHlľľlL Ve dnuhélm kroku se z odezvy materiálu určují Ihodnoty měřené veličiny. Obvykle se přitom užíva převodu neboli konverze optické hustoty záznamu na hodnoty expozice, popřípadě osvětlení, ozářlení apod., s použitím senzítom-etrické charakteristiky, tj. závislosti optické hustoty fotografického obrazu n-a llogarltmu explozilce, nebo jiné účelne formy vyjádření odezvy materiálu na exp-onující záření. Běžný postup stanovení konverzní charakteristiky je založen na zobrazeni měřicí struktury .na zkoušený materiál používá se přitom zejména kopírování senzitometrického .klínu, snívmání zkušební tabulky s šedýmí plochami apod. Přitom je nezbytné, aby podmínky při stanovení charakteristiky ,sewco ne-jvíce blížíly podmínkám při pořizování záznamu měřené fotometrioké či itacliomebrické veličiny.V některých případech lze tento požadavek obvyklými ,postupy splnit jen »obtížné a někdy je to nemožné. Například v případě,že jsou rozměry, popřípxaldě konfigurace,jednotlivých obrazových elementů vyhodnocováného záznamu značné odlišné od rozměrů konfigurace prvků měřicí struktury,jsou oba druhy záznamu ovlivňovány vyvolávacími jevy odlišným způsobem. Tato skutečnost nnapřírlçllald podstatné komplikuje vyihodnocování záznamů při »miškrosenzitomet.rickém měření fotografických materiálů,při kterém se rozměry plošek, tvořících obraz vyhodinooované struktury, liší od rozměrů polí běžných senzitogramů až řádově.V jiných přípa-dech je obtížné dosáhnout shodného spektrálního záření při vytváření výhodndcovaného záznamu a při stanovení konverzní charakteristiky. Někwdy lze tento požadavek spiinit jen tak, že se měřicí struktura zaznamenáva současně s měřeným .rozložením záření a je tedy umístěna v mě.řenem objektu nebo v jeho blízkosti. To lze v některých zpřípardech, například při dálkovém průzkunru Země, splní-t jen obtížně a se znalčnými náklady.Nevýnho-dy bežného způsobu fotografické totometrie odstraňuje způsob záznamu a kvantitattvního vyhodnocování Mob-ranu na fotochemických materiáloch podle vynálezu. jeho podstatou je, že měřená fotometrickánebo lradiometrická veličina nebo její zobrazení se na fotochemioký materiál zaznamená postupně nebo současně s nejméně dvěma odlišnými celkovými expozicemi. Nejméně .na dvou odpovídajících .si místech záznamů se změří albsorpce lSVělDla. Pro tato místa se stanoví dílčí charakteristiky, tj. závislosti absorpce na veličině vyjadřující hodInotu celkové expozice a vztah mezi hodnotami měřené fotometurické nebo radiometrické veličiny se určí z »odlehlosti dílčích charakteristík vůči sobě ne-bo vůči vztašžné hodnotě.Odstupñování celkové expozíce se při pořízování záznamů měř-eného rozložení záření dosahuje, zejména změnamí expoziční doby odměřované například závěrkou fotografické kamery, nebo jiného expozičniho zařízení nebo zmenami střední hodnoty osvětlení nebo intenzity ozáření například změnami otvoru clony .objektívu .nebo zařazlováním filtrů či iného zařízení omezujícího tok aktiníckého záření, .popříjpa-dě kolmbinová ním obou způsobů řízení celkové expozice.Při vyhodnocování obrazových záznaumů měřeného rozložení se na několika vzájemné se odpovídajících místech záznamů stanoví známým způsobem hodnoty veličiny,která charakterizuje absorpci fotooheniického záznamu v těchto místech a výsledky se použijí ke stanovení dílčích charakteristík,p-opřípsdě k jejich aproximaci. Dírlčí charakteristika je graficky či numeric-ky vyjádřená závislost veličiny, charakierizující absorpci na odpovídajících si místech různých záznaimů, na hodnotách lo-garltmů celkové expozice použité při -pořizování těchto záznamů. Dále se stanoví vzájemné posuvy dílčích charakteristík, stanovených na různých místech záznamů, vůči sobě, popřípadě vůči společné referenční hodnotě, tj., stano-ví se odlehlosti dílčích charakteristík, vyjádřcné v rozdílech logaritmů expozice. Posuvy definují log-aritmy poměrů expozic na vyhodng-ĺ covaných místech záznamů, buď vůči sobě,nebo vůči referenční hodnotě. Odlogaritmováním se pak stanoví poměry expozic, ,dávky ozáření apod. a podle účelu vyhodnocování další veličiny, zejména osvětlení, hustota výkonu zářivého toku apod. - Fotometrickou veličinou, çharakterizující absorpci íotochemických záznamů, můžebýt zejména optická hustota nebo činâtel prestupu či odrazu. zásadné je však použitelná-libovolná velíčina, která je v uvažovaném rozsahu monotonní funkcí optické hustoty.Výhody způsobu záznamu a vyhodnocováfní obrazu podle vynálezu jsou důsledkemskutečnosti., že způsob záznamu měřených.veličín a způsob zpracování obrazů rozložení měřených veličín vylučují nutnost -použít při fotografické íotometrií dalších zařízení afpo stupů ke stanovení konverzní charakteristiky záznamového média. Přednosti vynálezu se uplatní i tehdy, je-li takové zařízení k dispozicí. Při postupu podle vynálezu se používajívýhradně údaje, charakterizující vlastnosti záznamů vlastní vyhodnocované struktury.Tím jsou vyloučeny chyby, které mohou vznikat možnými rozdíly V chemickěm zpracování vlastních vyhodnocovaných zäznamů a záznamů potřebných při obvyklem postupu pro stanovení konverzní charakteristiky a zejména rozdíly, zvláště spektrální a strukturní, mezi měřenou a vyhodnocovanou strukturou, případně rozdíly v podmínkách při jejich zaznamenavání. Způsob je použitelný též v případě, kdy by bylo nákladné, obtížné nebo nemožné použít zvláštní měřicí strukturu. Výhodou je i skutečnost, že postup podle vynálezu nevyžaduje, aby k hodnocení fotochemického účinku byl použit přístroj, jehož údaje jsou číselně rovny optické hustotě nebo činiteii prestupu či odrazu.Použití způsobu záznamu a kvanvtitatívního vyhodnocování obrazu podle vynálezu demonstruje následující příklad a výkres.Při určovaní rozložení hustoty výkonu záření laseru po ohybu na mřížce by použití obvyklého postupu fotografické fotometrie vyžadovalo zhotovení zvláštního senzítometru, pracujícíbo se zářením laseru. Přitom by vznikly obtíže mj, s tzv. koherentní zrnitostí. Při použití konverzní charakteristiky měřené na kopiích běžných senzltometrických klínů by vznikaly závažné chyby, protože jemná struktura záznamů zářívé energie ve vyhodnocovaněm rozložení by byla okrajovými jevy při vyvolávání ovlivněna jinak, než značně rozsáhlejší plochy senzitegramů. Při použití postupu podle vynálezu bylo záření laseru na fotografický materiál Zaznamenánopostupně s expozíčními dobaniš. odstupňovanými v řadě 1 2 4 jednotky. Po chemickém zpracování byla na odpovídajíczlch si místech záznamů změřena optická hustota. Z trojic hodnot optcké hustoty OH, odpovídajících jednotlivým expozicím, se stanoví dílčí charakteristiky jako závislosti optické hustoty na logaritmech expoziční doby 2, viz výkres- prava část. Posuvy dílčích Charakteristik vůči charakteristice příslušející místům s největšími optíckýmí líustotami OH jsou stanoveny postupným načítáním rozdílů logaritmů expozice mezi sousedními dílčími charakteristikami. jejich odlogaritmováním se získají relativní hodnoty ozáření materiálu,tj. požadovaný výsledek. Kromě toho se posunutím jednotlivých dílčích charakteristík o hodnoty posuvů získá celková konverzní charakteristika, ktera je vyznačenie na výkresu. Tuto charakteristiku lze použít ke kon trole zäznamového procesu a ke konverzi hodnot optické hustoty OH na dalších místech zaznamů.Způsob měření a kvantit-ativního vyhodnocování obrazu podle vynálezu je určen pro použití zejména ve fotografické, obecněji fotochemickě, iotometrií, například v senzítometrii, zejména mikrosenzitometrii fotografických materiálů, dále ve fotometrii fotochemíckých záznamů vznikajících při aplikaci a měření citlivých vrstev v ultrafialové a rentgenové oblasti spektra, případně při práci s koherentním zářením. Předpoklädá se jeho využití pro získavaní fotometrických a radiometrických dat při dálkovém průzkumu Země.Způsob záznnmua kvantitativního vyhod- knocování obrazu na fotochemických materiálech, zejména způsob stanovení osvětlení a plošné hustoty zářivé energie ze záznamů na těchto materiáloch, vyznačený tím, že měřená fotometrická nebo radiometrická veličina nebo její zobrazení se na fotochemický materiál zaznamená postupně nebo současně s nejméně dvěma odlišnými celkovými expozi cemi a vždy nejméně na dvou odpovídajících si. místech záznamů se změří absorpce světle, přičemž pro tato místa se stanoví dílčí charakteristiky, tj. závislosti absorpce na velíčině vyjadřující hodnotu celkové expozice a vztah mezi hodnotami měřeně fotometricke nebo radiometrické veličiny se určí z od lehlosti dí-lčíoh charakteristík vůči sobě ne bo vůči vztažné hodnotě.

MPK / Značky

MPK: G01J 1/00

Značky: materiálech, způsob, obrazů, fotochemických, vyhodnocování, kvantitativního, záznamu

Odkaz

<a href="http://skpatents.com/4-232673-zpusob-zaznamu-a-kvantitativniho-vyhodnocovani-obrazu-na-fotochemickych-materialech.html" rel="bookmark" title="Databáza patentov Slovenska">Způsob záznamu a kvantitativního vyhodnocování obrazu na fotochemických materiálech</a>

Podobne patenty