Zapojení pro měření homogenity elektrického pole v polovodičových strukturách

Číslo patentu: 272020

Dátum: 13.12.1990

Autor: Zamba Juraj

Stiahnuť PDF súbor.

MPK / Značky

MPK: H01L 21/66, G01R 31/26

Značky: měření, strukturách, elektrického, polovodičových, zapojení, homogenity

Odkaz

<a href="http://skpatents.com/1-272020-zapojeni-pro-mereni-homogenity-elektrickeho-pole-v-polovodicovych-strukturach.html" rel="bookmark" title="Databáza patentov Slovenska">Zapojení pro měření homogenity elektrického pole v polovodičových strukturách</a>

Podobne patenty